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机译:金属双层图案设计中的层内覆盖影响
Department of Electrical Engineering, University of California, Los Angeles, CA, USA;
Alignment strategy; congestion; design for manufacturability; double patterning; layout decomposition; negative process; overlay; positive process; wire spreading; wire widening;
机译:45纳米技术节点单掩模和双掩模方法的双图案覆盖预算
机译:低于10nm节点设计的二维随机金属的自对准双图案布局分解
机译:单和双SiN_x中间层对通过有机金属气相外延生长的GaN覆盖层中的缺陷减少的功效
机译:金属双图案中的设计叠加相互作用
机译:沉积物中重金属的反应性传输:多组分扩散,扩散双层,锰氧化物的溶解以及纳米管中水传输的影响
机译:不同土地利用方式下重金属总量和有效性对土壤微生物群落功能和组装的重大影响
机译:金属双图案设计的层内叠加影响