机译:FinFET技术表征的接触链
, PDF Solutions, San Jose, CA, USA;
CMOS; Characterization; Contacts; Failure Mode; FinFET; Test Structures; characterization; contacts; failure mode; test structures;
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机译:门控接触链用于FinFET技术中的工艺表征
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机译:具有嵌入式校准方案的动态pH传感器采用先进的CMOS FinFET技术
机译:一种设备级特征方法,以量化不同随机变化源在Finfet技术的影响