机译:一种深度卷积神经网络,用于半导体制造过程中的不平衡数据集上的晶片缺陷识别
Chungbuk Natl Univ Dept Comp Sci Cheongju 28644 South Korea;
Chungbuk Natl Univ Dept Comp Sci Cheongju 28644 South Korea;
Chungbuk Natl Univ Dept Comp Sci Cheongju 28644 South Korea;
Feature extraction; Semiconductor device modeling; Training; Computational modeling; Convolutional neural networks; Fabrication; Data models; Wafer maps; wafer defect identification; deep learning; convolutional neural network; data augmentation; batch normalization;
机译:在半导体制造中使用深度卷积编码器-解码器神经网络架构对晶圆缺陷图案进行异常检测和分割
机译:一种基于晶圆半导体表面缺陷检查的深卷积神经网络的新方法
机译:培训数据集使用卷积神经网络,支持工业4.0电子制造中的自动检测过程
机译:卷积神经网络用于硅晶圆缺陷不平衡数据分类
机译:深度卷积神经网络用于EMBER恶意软件数据集的分类
机译:深度神经网络在灰指甲诊断中显示出与皮肤科医生相当且通常优于皮肤病的性能:通过基于区域的卷积深度神经网络自动构建灰指甲数据集
机译:使用深卷积编码器解码器神经网络架构在半导体制造中的晶片缺陷模式的异常检测和分割