机译:加速寿命测试中混合系统屏蔽数据的非参数贝叶斯分析
Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University, Xi'an, China;
Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University, Xi'an, China;
Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University, Xi'an, China;
Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University, Xi'an, China;
Department of Applied Mathematics, Northwestern Polytechnical University, Xi'an, China;
Silicon; Stress; Reliability; Bayes methods; Life estimation; Maximum likelihood estimation; Niobium;
机译:Ⅰ型渐进混合检查下步压部分加速寿命试验中Burr-Ⅻ掩蔽系统的贝叶斯分析
机译:来自寿命分布族的屏蔽系列系统寿命数据的贝叶斯分析
机译:逐步消除的自适应步进应力部分加速寿命测试中掩盖数据的可靠性分析
机译:BURR-XII屏蔽系统寿命数据在阶跃应力部分加速的寿命试验中的类型 - I次逐步混合审查
机译:具有误差影响的Cox比例风险模型的贝叶斯分析及其在加速寿命测试数据中的应用。
机译:采用渐进式混合检查的逐步应力部分加速寿命试验中掩盖式混合系统寿命数据的统计分析
机译:采用渐进式混合删失的步进应力部分加速寿命试验中掩蔽混合系统寿命数据的统计分析。
机译:测试数据分析:aNDVT和aNDVT混合系统的语音可理解测试。