机译:差分吸收光谱仪,用于确定10到2000 keV的闪光X射线光谱
机译:在软X射线中的吸收边缘附近的原子形状因子,光电吸收和散射横截面的详细标记(Z = 30-36,Z = 60-89,E = 0.1KeV-10Kev ),寻址融合是
机译:一种基于半导体X射线光谱仪的能量分散方案和宽带单色器,用于确定吸收光谱中的重元素含量
机译:X射线吸收精细结构结合X射线荧光光谱法。在9-29 keV的吸收边缘处提高光谱分辨率
机译:透射晶体光谱仪在10 keV至70 keV光子能量范围内记录的Betatron X射线光谱
机译:由堆叠Blumleins驱动的X射线源,产生500 keV光子
机译:高分辨率光谱仪可在6 keV至15 keV的能量范围内扩展X射线吸收精细结构的测量
机译:高分辨率光谱仪,用于延长X射线吸收的精细结构测量,在6 keV至15keV能量范围内
机译:差分吸收光谱仪用于测定10至2000 KeV的闪光X射线光谱