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机译:使用辐射硬化的条纹电池功率MOSFET结构进行单事件门破裂的仿真研究
NAVSEA Crane, IN, USA;
power MOSFET; radiation hardening (electronics); impact ionisation; semiconductor device models; single-event gate rupture; radiation-hardened stripe cell power MOSFET structures; neck widths; drain biases; gate biases;
机译:垂直功率MOSFET中单事件栅极破裂和烧毁的实验研究
机译:重新发现功率MOSFET中的单事件栅极破裂机制
机译:离子原子数对功率MOSFET单事件栅极破裂(SEGR)磁化率的影响
机译:重新发现功率MOSFET中的单事件栅极破裂机制
机译:多栅极绝缘体上硅MOSFET器件结构的开关和RF性能的设计,仿真和分析
机译:具有多个外延层的150–200 V分离栅沟道功率MOSFET
机译:离子原子数对功率MOSFET单事件栅极破裂(SEGR)磁化率的影响
机译:离子原子序数对功率mOsFET单事件栅极断裂(sEGR)敏感性的影响。