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机译:SOI电流镜电路上C-SiGe HBT中单事件瞬态的研究
School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, USA;
Heterojunction bipolar transistors; Mirrors; Radiation hardening (electronics); Silicon germanium; Single event transients; Single event upsets; Transient analysis; Current mirrors; SiGe HBT; TCAD; inverse-mode operation; mixed-mode simulation; radiation hardening; single-event effects; single-event transient; single-event upset;
机译:负反馈效应对SiGe HBT模拟电路中单事件瞬态的作用
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机译:带脉冲激光的快速集成电路中单事件瞬态的研究
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