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机译:原子力显微镜研究SiO / sub 2 /上沉积的硅薄膜的表面粗糙度
amorphous semiconductors; atomic force microscopy; chemical vapour deposition; crystallisation; elemental semiconductors; etching; evaporation; ion implantation; nucleation; semiconductor thin films; silicon; silicon compounds; surface cleaning; surface roughness; 2.2;
机译:X射线散射和原子力显微镜对光学表面和薄膜粗糙度的比较研究
机译:通过反射高能电子衍射(RHEED),原子力显微镜(AFM)和扫描隧道显微镜(STM)进行化学气相沉积(CVD)金刚石薄膜表面研究的报告
机译:原子力显微镜和显微拉曼光谱法研究沉积在硅衬底上的酞菁铁薄膜的取向研究
机译:优异的硅表面钝化与原子层沉积SiO_2薄膜
机译:等离子体沉积非晶硅薄膜的表面反应性,粗糙度和结晶度的原子分析。
机译:利用远程等离子体原子层沉积系统沉积的HfO2薄膜对硅进行表面钝化
机译:原子力显微镜和显微拉曼光谱研究在硅衬底上沉积的酞菁铁薄膜的取向研究
机译:富勒烯薄膜的原子力显微镜研究:高度稳定的C60 fcc(311)自由表面