...
机译:使用扫描微波显微镜对20 GHz高压横向MOS晶体管进行校准的纳米级掺杂物分析和电容
Keysight Labs, Keysight Technologies Austria GmbH, Linz, Austria;
Keysight Labs, Keysight Technologies Austria GmbH, Linz, Austria;
Process Development, Austriamicrosystems, Unterpremstaetten, Austria;
Biophysics Institute, Johannes Kepler University, Linz, Austria;
Institute for Solid State Electronics, Technical University of Vienna, Vienna, Austria;
Keysight Labs, Keysight Technologies Austria GmbH, Linz, Austria;
Doping; Transistors; Calibration; Capacitance; Microwave imaging; Microwave transistors; Microscopy;
机译:使用扫描微波显微镜校准纳米级掺杂物轮廓
机译:扫描微波显微镜对掺杂物谱和电容谱的频率分析
机译:使用校准的扫描扩展电阻显微镜和扫描电容显微镜对太赫兹量子级联激光器中的载流子进行二维轮廓分析
机译:使用扫描电容显微镜在100 nm规模的MOS结构中横向掺杂物分布图
机译:通过扫描电容显微镜对二维掺杂物进行分析。
机译:使用扫描微波显微镜进行可追踪纳米级电容测量的进展
机译:埋入异质结构多量子阱激光器中载流子的二维轮廓分析:校准扫描扩展电阻显微镜和扫描电容显微镜
机译:用扫描电容显微镜观察金属氧化物半导体晶体管的操作;应用物理快报