机译:晶圆上基于屏蔽的测试夹具的简单噪声去嵌入技术
Nokia Networks, Aalborg, Denmark;
microwave measurement; semiconductor device testing; semiconductor device noise; test equipment; electric noise measurement; matrix algebra; microwave transistors; shielding; on-wafer shield-based test fixtures; noise deembedding technique; two-port;
机译:基于晶圆屏蔽的测试夹具布局的优化
机译:晶圆上噪声测量的噪声因子直接去嵌入
机译:改进的基于级联的噪声去嵌入方法在晶圆上噪声参数测量中的应用
机译:基于屏蔽的晶圆上CMOS测试夹具,采用多晶硅屏蔽层
机译:用于MMIC应用的晶圆上光电技术。
机译:健康老年人的多中心fMRI研究中默认模式网络的重测可靠性:数据驱动的生理噪声校正技术的影响
机译:多端口器件晶圆表征的测量和解除技术
机译:超低噪声HEmT器件模型:晶圆上低温噪声分析和改进参数提取技术的应用