机译:串扰噪声导致ULSI装置中铜互连线的电迁移加剧
机译:评估ULSI装置中的阻抗不匹配对铜互连线电迁移的影响
机译:由于局部谐振,超大规模集成电路设备中配电网络的电迁移加剧
机译:真正的恒温MTF测试系统,用于表征厚铜互连线的电迁移
机译:ULSI铜互连中电迁移的研究
机译:用于20 Gbit / sec 4-PAM背板串行I / O互连的均衡和近端串扰(NEXT)噪声消除。
机译:阴道分娩后放置六个月的胎盘后子宫内排卵器
机译:ULSI互连的电迁移
机译:ULsI中的互连:相关和串扰