机译:针对纳米技术的单事件多重效应的鲁棒SRAM单元设计
SRAM cell; Single Event Multiple Effect (SEME); Single Event Upset (SEU); Soft error; single-event multiple effect (SEME); single-event upset (SEU);
机译:用于空间应用的单事件多效耐力RHBD14T SRAM单元设计
机译:改进的SRAM单元设计可承受辐射引起的单事件效应
机译:14 nm散装FinFET技术中倒装芯片封装SRAM装置的重离子诱导单事件镦锻响应的角度效应
机译:NBTI诱导的SRAM单元单事件翻转硬度影响的基本机理分析
机译:在16NM技术中使用FinFET和CMOS的8T SRAM单元的设计与性能评估
机译:功耗优化的变化感知双阈值SRAM单元设计技术
机译:纳米技术的SRAM单元的读取稳定性和可写性分析