机译:信号转换时间对CMOS延迟评估的影响
CMOS logic circuits; SPICE; cellular arrays; circuit simulation; delays; integrated circuit modelling; logic gates; logic simulation; 0.25 micron; 0.35 micron; CMOS delay evaluation; HSPICE level; circuit path performances; drive current; foundry card model; gate delay;
机译:信号转换时间对CMOS延迟评估的影响
机译:基于新型解析延迟时间模型的低压BiCMOS延迟时间退化评估
机译:在恶劣条件下(200°C)评估商用CMOS SOI驱动器考虑延迟,上升时间和下降时间与温度的关系
机译:评估用于处理具有较大时间延迟和带宽的RF信号的色散布拉格光栅(BG)结构
机译:数字延迟线中的可变转换时间逆变器,具有模拟存储,用于处理快速信号和脉冲
机译:基于多晶硅电阻的时域CMOS温度传感器具有9b SAR和精细延迟线
机译:具有自适应延迟时间控制的CMOS模拟连续时间延迟线