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机译:近场扫描微波显微镜:纳米计量学的新兴研究工具
Physical Measurement Laboratory, m/s 687.01, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO 80305 USA|c|;
机译:近场扫描光学显微镜探测的纳米尺度地形学相关性。
机译:激光束扫描使用近场扫描光学显微镜纳米级硅基光电探测器
机译:演示非光学调节的攻丝模式近场扫描光学显微镜在纳米光学计量学和半导体光学表征中的应用
机译:扫描近场微波显微镜用于纳米材料和设备的空间定位计量
机译:扫描近场光学显微镜用于测量纳米级的材料性能。
机译:使用近场扫描光学显微镜对伪微蓝LED中的表面等离子体耦合的光致发光增强进行纳米级表征。
机译:使用近场扫描光学显微镜纳米透视基于硅基光电探测的激光束扫描
机译:新兴显示技术的超快近场扫描光学显微镜(NsOm)介质:固态电子结构和动力学