机译:多晶硅超薄栅极氧化物nMOSFET中随温度变化的远程库仑限制电子迁移率
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics, National Chiao Tung University , Hsinchu, Taiwan;
Gate oxide; high-$k$; interface plasmons; metal gate; metal–oxide–semiconductor field-effect transistors (MOSFETs); mobility; phonons; polysilicon; remote Coulomb; scattering; surface roughness;
机译:抑制(100)取向双栅极超薄体nMOSFET中电子迁移率的降低
机译:评估超薄栅极氧化物($ sim $ 1 nm)nMOSFET的表面粗糙度的面向温度的迁移率测量和仿真及其TEM证据
机译:0.13μmnMOSFET中具有超薄(EOT = 1.3 nm)氮化栅氧化物的热电子诱导电子陷阱
机译:多晶硅栅极的费米能级位置对超薄氮化物栅极堆叠的平带电压漂移的影响
机译:存在高κ栅极绝缘体的块状Si NMOSFET中的电子传输:电荷俘获和迁移率
机译:电解质门控氧化物表面的高迁移率电子系统
机译:多晶硅栅极增强了随机掺杂剂引起的具有超薄栅极氧化物的亚100nm mOsFET的阈值电压波动