机译:利用脉冲漏极电流瞬态的双栅极SOI MOSFET的新型电荷泵技术
Department of Electrical Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST) , Daejeon, Korea;
Charge pumping (CP); drain current transient; floating body (FB); interface trap; silicon-on-insulator (SOI) MOSFET;
机译:弱反转中脉冲漏极电流瞬态的二维数值模拟及其在具有超薄氧化物的小型几何MOSFET界面陷阱表征中的应用
机译:通过栅极感应的漏极电流瞬态分析薄栅氧化物FD-SOI n-MOSFET的载流子寿命
机译:栅极隧穿浮体充电对0.10μm-CMOS部分耗尽SOI MOSFET的漏极电流瞬变的影响
机译:亚微米浮体PD SOI MOSFET的弱和中等反转中产生漏电流瞬变的新型紧凑模型
机译:低于100nm CMOS和低于70nm完全自对准双栅极CMOS的钨/硅锗/硅凸起单源/漏极的设计,制造和表征
机译:具有位置载流子散射相关性的准弹道漏电流电荷和电容模型对纳米级对称DG MOSFET有效
机译:使用GIDL电流技术分析薄膜常规和单口袋SOI MOSFET中的浮体效应