...
机译:使用EBIC线扫描直接提取半导体材料参数的方法的研究:平面集电极配置
School of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore|c|;
Charge-carrier processes; electron microscopy; semiconductor device measurement; semiconductor materials;
机译:从EBIC线扫描中提取扩散长度和表面复合速度的直接方法:平面结构型
机译:TCAD研究确定任意尺寸肖特基接触的平面集电极EBIC配置的扩散长度
机译:确定SEM的EBIC和SEBIV模式下半导体参数的新方法
机译:基于超材料技术的人工材料本构参数提取方法研究
机译:近场扫描光学显微镜研究III-V半导体材料中的不溶混作用和光反射对比。
机译:扫描电子显微镜对半导体材料中扩展缺陷的全面表征
机译:从电流-电压特性中提取确定无序有机半导体中迁移率的材料参数:准确性和局限性
机译:Ebic / Tem对太阳能硅带材料缺陷的研究