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【24h】

A Health Monitoring Method for Bond Wires in IGBT Modules Based on Voltage Ringing Characteristics

机译:基于电压振铃特性的IGBT模块键合线健康监测方法

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摘要

Bond wire failure is a common failure that seriously affects the reliability of insulated-gate bipolar transistor (IGBT) modules. Real-time health monitoring for bond wires is very important to avoid catastrophic failures. In this article, we introduce a
机译:键合线故障是一种常见故障,会严重影响绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块的可靠性。实时监控焊线对避免灾难性故障非常重要。在本文中,我们介绍了

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