机译:FN应力和栅极氧化物击穿对深亚微米nMOSFET高频噪声特性的影响
CMOS; High-frequency noise; Noise model; Oxide breakdown; Reliability;
机译:深亚微米体和SOI MOSFET的温度相关高频噪声特性研究
机译:深亚微米NMOSFET中随机电报信号噪声的FN应力引起的退化
机译:深亚微米NMOSFET中FN应力引起的随机电报信号噪声的衰减
机译:动态应力CMOS电路中热载流子引起的nFET栅极氧化物击穿的观察
机译:模拟CMOS IC的压力测试,可增强栅极氧化物的可靠性。
机译:高频正弦振幅调制音和高频转置音传达的耳间时间差异的辨别:频谱侧翼噪声的影响
机译:栅氧化层击穿对深亚微米NmOsFET射频噪声的影响
机译:基于ROTHR amchitka频谱测量的高频信号,噪声,可用性和带宽持续时间的特征。