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【24h】

Cointegration of In Situ Doped Silicon–Carbon Source and Silicon–Carbon I-Region in P-Channel Silicon Nanowire Impact-Ionization Transistor

机译:P沟道硅纳米线冲击电离晶体管中原位掺杂的硅碳源和硅碳I区的共集成

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摘要

The p-channel impact-ionization nanowire multiple-gate field-effect transistors (I-MuGFETs or I-FinFETs), which have a multiple-gateanowire-channel architecture, were demonstrated. The superior gate-to-channel coupling reduces the breakdown voltage
机译:演示了具有多栅极/纳米线通道架构的p沟道冲击电离纳米线多栅极场效应晶体管(I-MuGFET或I-FinFET)。出色的栅极至通道耦合降低了击穿电压

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