首页> 外文期刊>Electron Device Letters, IEEE >A New Edge Termination Technique for High-Voltage Devices in 4H-SiC–Multiple-Floating-Zone Junction Termination Extension
【24h】

A New Edge Termination Technique for High-Voltage Devices in 4H-SiC–Multiple-Floating-Zone Junction Termination Extension

机译:4H-SiC-多浮区连接端接扩展中高压器件的新型边缘端接技术

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

A new edge termination method, referred to as multiple-floating-zone junction termination extension (MFZ-JTE), is presented for high-voltage devices in 4H-SiC. 4H-SiC PiN rectifiers with a breakdown voltage of 10 kV (about 88% of the theoretical value) were fabricated using MFZ-JTEs. The MFZ-JTE technique only requires a single pattern-and-implant step while providing significant process latitude for parameter variations such as implantation dose and activation anneal condition.
机译:针对4H-SiC中的高压器件,提出了一种新的边缘终止方法,称为多浮动区结终止扩展(MFZ-JTE)。使用MFZ-JTE制造了击穿电压为10 kV(理论值的约88%)的4H-SiC PiN整流器。 MFZ-JTE技术仅需要一个图案和植入步骤,同时为参数变化(例如注入剂量和激活退火条件)提供了极大的工艺自由度。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号