机译:SOI FinFET中的自加热对模拟电路和芯片间可变性的影响
Department of Electronics and Telecommunications, Norwegian University of Science and Technology, and University Graduate Center (UNIK), Kjeller,;
Interdie variability; SOI FinFETs; nonisothermal conductances; self-heating (SH);
机译:自发热对体和SOI FinFET的统计变异性的影响
机译:自热和热耦合对SOI CMOS中模拟电路的影响
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机译:通过利用非晶金属栅极技术抑制FinFET的可变性和低频噪声,突破模拟/数字电路的突破
机译:自发热的3D分析及其对SOI和Bulk FinFET性能的影响。
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机译:自加热对体积和sOI FinFET的统计变化的影响
机译:通过陡峭斜率FinFET实现模拟和RF电路性能的突破。