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机译:对“通过可变温度开尔文探针力显微镜研究厚度可缩放的捕获层的电荷损失机理的研究”的修正
Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China|c|;
机译:可变温度开尔文探针力显微镜研究可缩放厚度俘获层的电荷损失机理
机译:可变温度开尔文探针力显微镜研究HfAlO陷阱层中不同Al含量的电荷损失特性
机译:开尔文探针力显微镜对3D电荷陷阱闪存的低温沉积后退火研究
机译:原位电子全息技术和开尔文探针力显微镜技术可视化可缩放厚度的HfO2捕集层中的电荷分布行为
机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:分子分辨原子力显微镜(AFM)和开尔文探针力显微镜研究了HOPG上亚单层和单层中MnIII6CrIII 3+单分子磁体的结晶顺序和分解
机译:扫描开尔文探针力显微镜研究低铜7xxx铝合金中的氢扩散和捕集