机译:h-BN隧道势垒中二维材料局部静电探测的缺陷
机译:通过石墨烯/ H-BN /石墨烯异质结构的H-BN屏障零尺寸缺陷水平观察负导电性区域和电流产生的影响
机译:通过H-BN中的零尺寸水平的零尺寸水平渗透石墨烯/ H-BN /石墨烯异质结构及其作为测量石墨烯状态密度的探针
机译:石墨烯结构缺陷在VAN-DER-WAALS异质结构中通过局部状态谐振隧穿的作用
机译:PMMA和h-BN颗粒尺寸对静电吸附法制备的PMMA / h-BN复合材料电学和热学性能的影响
机译:使用低温扫描隧道显微镜和光谱学对基于分子和基于过渡金属的低维系统电子结构的局部探针研究。
机译:通过空间分辨的三维局部压力和表面张力探测模拟膜内的微观材料特性
机译:2D材料中个体缺陷和边界的电子行为:具有多探针扫描隧道显微镜的空间解决的研究
机译:扫描隧道显微镜研究低维材料:探讨原子水平化学替代的影响