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【24h】

Effect of tetramethylammonium hydroxide/isopropyl alcohol wet etching on geometry and surface roughness of silicon nanowires fabricated by AFM lithography

机译:氢氧化四甲铵/异丙醇湿法刻蚀对AFM光刻制备的硅纳米线的几何形状和表面粗糙度的影响

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