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【24h】

DC built-in self-test for linear analog circuits

机译:线性模拟电路的DC内置自检

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摘要

DC testing of analog circuits is cheaper than AC testing and covers many fault classes, including some that AC tests cannot detect. This efficient, low-cost, built-in self-test (BIST) methodology uses the checksum encodings of matrix representations to uncover faults that affect a circuit's DC transfer function.
机译:模拟电路的直流测试比交流测试便宜,并且涵盖了许多故障类别,包括某些交流测试无法检测到的故障。这种高效,低成本的内置自检(BIST)方法使用矩阵表示的校验和编码来发现影响电路DC传递函数的故障。

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