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IEEE Std 1500 Enables Modular SoC Testing

机译:IEEE Std 1500启用模块化SoC测试

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摘要

IEEE Std 1500 enables modular SoC testing, not only for core-based testing, but also for divide-and-conquer test generation and test reuse. This article provides a brief tutorial on the standard and illustrates its usage through two application case studies.
机译:IEEE Std 1500支持模块化SoC测试,不仅适用于基于内核的测试,而且适用于分治式测试生成和测试重用。本文提供了有关该标准的简短教程,并通过两个应用案例研究说明了其用法。

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