机译:使用增强型IEEE 1500测试包装器的SOC中小型RAM的低成本自测技术
Advanced Reliable Systems (ARES) Lab., Department of Electrical Engineering, National Central University, Jhongli, Taiwan;
IEEE 1500; built-in self-test (BIST); multi-port RAM; random access memory (RAM); system-on-chip (SOC);
机译:基于IEEE-1500的SoC的低成本扫描测试
机译:兼容IEEE 1500的可编程包装器,用于测试面向字的存储核心
机译:LI-BIST:一种用于SoC逻辑内核和互连的低成本自测方案
机译:增强的IEEE 1500测试包装器,用于测试SOC中的小型RAM
机译:适用于片上实施和ADC内置自检解决方案的技术,可实现低成本和准确的ADC测试
机译:三种出生体重不足1500克的自闭症筛查测试的比较
机译:基于IEEE-1500的soC的低成本扫描测试