机译:RDIS:容忍电阻存储器中的许多卡在故障
Department of Computer Science , University of Pittsburgh, 210 S. Bouquet, Pittsburgh,;
Computer architecture; Error correction; Error correction codes; Microprocessors; Noise measurement; Radiation detectors; Random access memory; Hard faults; fault tolerance; phase change memory; reliability;
机译:模拟电阻桥接和卡死故障
机译:基于忆阻器的面向电阻式存储器容错的电阻切换机制分析与建模
机译:ATMEL STAC eFlash存储器中实际电阻缺陷的分析和故障建模
机译:RDIS:一种递归定义的可逆集方案,可容忍电阻性存储器中的多个卡住故障
机译:检测和容忍分布式系统中的故障。
机译:在不同疟疾传播强度下抵抗和耐受妊娠恶性疟原虫
机译:通过重量映射容忍电阻边缘推测引擎的故障和变化
机译:桥接故障的不可检测性和卡住故障测试装置的有效性