机译:基于TSV的3-D连接和电源完整性的直流电流拥挤分析和建模
IBM, Hopewell Junction, NY, USA|c|;
3-D; DC current crowding; IR; electromigration (EM); power delivery network (PDN); power integrity; reliability; through-silicon-via (TSV);
机译:基于TSV的3-D存储器IC(包括P / G TSV,片上去耦电容器和硅衬底效应)中配电网络的建模和分析
机译:基于TSV的3-D集成中PDN阻抗和开关噪声的建模与分析
机译:具有接地TSV屏蔽的基于3D TSV的电感器的建模和串扰评估
机译:分析硅通孔中的直流电流拥塞及其对3D IC中电源完整性的影响
机译:基于3-D TSV的供电架构的定量分析和建模
机译:具有ModelICA的自动传感器系统中DC / DC转换器的行为建模
机译:基于TSV的3D集成电路中的电源噪声