机译:[0001]取向的GaN纳米线侧壁表面C_N点缺陷的第一性原理研究
Peking Univ, Sch Phys, State Key Lab Artificial Microstruct & Mesoscop P, Beijing 100871, Peoples R China;
China Acad Engn Phys, Microsyst & Terahertz Res Ctr, Chengdu 610200, Sichuan, Peoples R China;
GaN nanowires; First-principles; Point defects; Electronic structures;
机译:通过第一性原理研究点缺陷n-GaN(0001)表面的光电性能
机译:N-GaN(0001)表面通过第一原理与点缺陷的光电性能研究
机译:GaN(0001)表面点缺陷的形成和结构的第一性原理计算
机译:第一性原理研究GaN(0001)表面的电子结构和光学性质
机译:缺陷的硫化钼(0001)单晶表面上的表面缺陷与表面反应路径之间的关系
机译:外延生长过程中缺陷形成的分子动力学研究(0001)GaN表面上的InGaN合金的制备
机译:GaN(0001)表面上点缺陷的形成和结构的第一原理计算
机译:GaN,alN及其合金缺陷的第一性原理研究