机译:用μXRf确定层厚度
University of Hannover, Callinstr. 9, 30167 Hannover, Germany;
thin films; microXRF; layer thickness; TiN;
机译:Monte Carlo模拟标准的ED-XRF多变量分析厚度测定金属多层分析
机译:结合pXRF和PLS回归确定哥伦布前物体和镀金框上的金层厚度
机译:使用微探针EDXRF技术测量古瓷器的主体和吃草层之间的瞬时厚度
机译:XRF光谱仪的校准,用于通过RBS测定聚合物上的超薄金属层的厚度
机译:在氮化镓上生长的氮化铟镓薄膜的生长和临界层厚度测定。
机译:MA-XRF分析中的差分X射线衰减用于无创确定镀金厚度
机译:MA-XRF分析中的差分X射线衰减,用于镀金厚度的非侵入性测定
机译:n-烷硫醇盐单层在银纳米结构上的自组装:扫描隧道显微镜测定单层膜的表观厚度