GCM恒电流库伦测厚仪及XRF荧光光谱测厚分析仪在有机纳米银镀层厚度测量上的研究

王芳

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GCM恒电流库伦测厚仪及XRF荧光光谱测厚分析仪在有机纳米银镀层厚度测量上的研究

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确信乐思化学(上海)有限公司推出一种新的最终表面处理制程有机金属纳米银,该有机金属镀层与传统的有机保焊膜相比具有目测可见,可电测及优异的可焊性.这种新的最终表面处理制程以其优异的可靠性为印制线路板行业带来光明的前景.针对GCM恒电流库伦测厚仪及XRF荧光光谱测厚分析仪两种厚度测试方法在有机金属纳米银制成的应用方面进行一系列的研究.

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来源
《河南化工》|2020年第6期|59-61|共3页
作者
王芳;
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作者单位

确信乐思化学(上海)有限公司上海 201417;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类库仑分析（电量分析法）;光化学分析法（光谱分析法）;
关键词
有机金属纳米银; 有机金属镀层; 恒电流库伦测厚法; X射线荧光光谱测厚分析;
入库时间 2023-07-25 09:29:44

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