机译:透射电子显微镜确定薄箔厚度的方法
Centra Atomico Bariloche, Comision National de Energia Atomica and CONICET, 8400 San Carlos de Bariloche, Rio Negro, Argentina;
foil thickness determination; thin foil characterization; transmission electron microscopy; convergent beam electron diffraction;
机译:高分辨率透射电子显微镜测定GaAs(001)上InxGa_(1-x)As岛中的偏析,弹性应变和薄箔松弛
机译:电子显微镜实用方法卷。 11:用于电子显微镜的薄箔制备,作者:P.J。Goodhew,由A.M.纽约Glauert Elsevier科学出版公司(1985)ISBN 0-444-806-997;插图,$ 31.50
机译:结合莫尔图案和高分辨率透射电子显微镜进行平面内薄膜厚度测定
机译:卷对卷工艺在塑料箔上制备的非晶态串联薄膜硅模块的透射电子显微镜
机译:透射电子显微镜中的定量结构测定,借助S状态模型进行。
机译:气相电泳迁移率大分子分析仪原子力显微镜和透射电子显微镜对整个病毒疫苗颗粒的大小进行综合测定
机译:通过先进的透射电子显微镜测定薄介电膜厚度