机译:衬底对<111>取向菱面体Pb(zr_(0.6)ti_(0.4))o_3薄膜铁电性能的影响
Laboratoire CRISMAT/CNRT-ENSICAEN, CNRS UMR 6508,Universite de Caen Basse-Normandie, Boulevard Marechal Juin, 14050 Caen Cedex, France;
pzt thin films; crystallographic orientation; ferroelectricity; ferroelectric domains;
机译:溶胶凝胶法制备高(111)取向Pb(Zr_(0.4)Ti_(0.6))O_3薄膜的铁电性能
机译:低疲劳外延全(001)取向(Bi,La)_4Ti_3O_(12)/ Pb(Zr_(0.4)Ti_(0.6)O_3 /(Bi,La)_4Ti_3O_(12)三层薄膜的显微结构和铁电性能在(001)SrTiO_3基板上
机译:SrRuO_3覆盖的全外延铁电(Bi,La)_4Ti_3O_(12)/ Pb(Zr_(0.4)Ti_(0.6))O_3 /(Bi,La)_4Ti_3O_(12)三层薄膜的生长,结构和性能SrTiO_3(011)基板
机译:PB的有效方向控制(Zr_(0.4)Ti_(0.6))O_3使用新型Ti / Pb的薄膜(Zr_(0.4)Ti_(0.6))O_3播种层
机译:外延氮化钛/氮化铌和钒(0.6)铌(0.4)氮化物(0.4)/氮化铌超晶格薄膜的成核,结构和力学性能
机译:(100)/(001)取向四方外延Pb(Zr0.4Ti0.6)O3薄膜在电场作用下超快90°域转换的原位观察
机译:铁电极化引起的应变对(111)取向铁电衬底上生长的La0.67Ba0.33MnO3薄膜的磁性和输运性能的影响
机译:具有各种应变状态的ba(0.6)sr(0.4)tio(3)薄膜的介电性能