机译:YNi_2B_2C薄膜微观结构的TEM表征。
Institute of Structural Physics, TU Dresden, 01062 Dresden, Germany;
ternary, quaternary and multinary compounds (including Chevrel phases, borocarbides, etc.); low-Tc films; transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.); thin film structure and morphology;
机译:使用新型TEM技术表征孤立的聚酰胺薄膜
机译:使用TEM方向映射对多晶薄膜中的微结构和织构进行高度分辨定量
机译:CSD衍生LaNiO_3底部电极对压应力Pb(Zr,Ti)O_3薄膜的TEM显微结构分析。
机译:镍络薄膜的TEM表征
机译:定量研究射频MEMS开关中使用的镍电沉积层的微观结构和结晶纤维质地,包括一种用于多晶膜的新型透射电子显微镜(TEM)技术
机译:解析(S)TEM表征微相分离嵌段共聚物薄膜中PS-PMMA界面
机译:GE的微观结构:TA 2 sub> O 5 sub>颗粒薄膜:TEM层扫描的应用
机译:用于TEm(透射电子显微镜)检查蓝宝石(al2O3)薄膜的背面薄化技术。