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采用EELS和TEM对Ni—BaTiO3纳米复合薄膜微观结构的分析

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本文采用激光分子束外延法(L-MBE)生长Ni-BaTi03复合外延薄膜，并采用能量损失谱(EELS)和透射电子显微像((TEM)对薄膜进行分析.截面TEM样品用聚焦粒子束( FIB)法切割制得。Gatan DigitalMicrograph TM软件分析高分辨透射电子显微像(HRTEM)以及EELS。

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来源
《第十一届全国核靶技术学术交流会》|2011年|38-39|共2页
会议地点云南腾冲
作者
陈士娟; 吴卫东; 葛芳芳; 马拥军; 王雪敏; 陈丽英; 韩尚君; 张红; 王红斌; 唐永建;
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作者单位

中国核学会;

中国物理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类薄膜物理学;
关键词
纳米复合薄膜; 激光分子束外延法; 透射电子显微像技术; 结构分析;

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