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机译:表面氧化对纤锌矿型氮化铝的价电子能谱的影响
Department of Materials Science and Engineering, National Cheng-Kung University, Tainan 701, Taiwan;
III-V semiconductors; aluminium compounds; dielectric function; electron energy loss spectra; oxidation; scanning-transmission electron microscopy; wide band gap semiconductors; 7722Ch; 7920Uv; 8165Mq;
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