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Large scale computer simulations of strain distribution and electron effective masses in silicon 〈100〉 nanowires

机译:硅<100>纳米线中应变分布和电子有效质量的大规模计算机模拟

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摘要

A multiscale method is proposed to analyze the internal redistribution of tensile strain applied tonsilicon u0003100u0004 nanowires and its effect on electron effective masses mu0001. Nonperiodic, realistic modelsnof unprecedented size containing up to 2.2u0001107 atoms u0001652u000126u000126 nm3u0002 allow the identificationnof nonuniform redistribution patterns specific to the constraints applied to impose external strain.nDepending on how the external strain is imposed, silicon nanowires can show mu0001 behavior similarnto strained bulk silicon, or, as a function of nanowire size, can display intrinsic strain large enoughnthat external strain hardly reduces mu0001 further. For nanowire cross section sizes smaller thann8u00018 nm2 quantum confinement leads to an increase in mu0001 which cannot be compensated for byntensile strain.
机译:提出了一种多尺度的方法来分析拉伸应变施加扁桃体u0003100u0004纳米线的内部分布及其对电子有效质量mu0001的影响。前所未有的非周期性,逼真的模型n包含多达2.2u0001107个原子的前所未有的大小u0001652u000126u000126 nm3u0002允许识别特定于施加外部应变的约束的非均匀重新分布模式。或者,作为纳米线尺寸的函数,可以显示足够大的固有应变,以至于外部应变很难进一步减小mu0001。对于小于n8u00018 nm2的纳米线横截面尺寸,量子限制导致mu0001的增加,这不能通过拉伸应变来补偿。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letteres》 |2010年第19期|p.1-3|共3页
  • 作者单位

    IBM Research – Zurich, Säumerstr. 4, 8803 Rüschlikon, Switzerland;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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