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Large scale computer simulations of strain distribution and electron effective masses in silicon (100) nanowires

机译:硅(100)纳米线中的应变分布和电子有效质量的大规模计算机模拟

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摘要

A multiscale method is proposed to analyze the internal redistribution of tensile strain applied to silicon (100) nanowires and its effect on electron effective masses m*. Nonperiodic, realistic models of unprecedented size containing up to 2.2 × 10~7 atoms (652 × 26 × 26 ran~3) allow the identification of nonuniform redistribution patterns specific to the constraints applied to impose external strain. Depending on how the external strain is imposed, silicon nanowires can show m* behavior similar to strained bulk silicon, or, as a function of nanowire size, can display intrinsic strain large enough that external strain hardly reduces m* further. For nanowire cross section sizes smaller than 8×8 nm~2 quantum confinement leads to an increase in m* which cannot be compensated for by tensile strain.
机译:提出了一种多尺度方法来分析施加到硅(100)纳米线上的拉伸应变的内部重新分布及其对电子有效质量m *的影响。前所未有的非周期性,逼真的模型,包含多达2.2×10〜7个原子(652×26×26 ran〜3),可以识别特定于施加外部应变的约束的非均匀重新分布模式。取决于施加外部应变的方式,硅纳米线可以表现出与应变体硅相似的m *行为,或者,作为纳米线尺寸的函数,硅纳米线可以表现出足够大的固有应变,以至于外部应变很难进一步减小m *。对于小于8×8 nm〜2的纳米线横截面尺寸,量子限制导致m *的增加,这无法通过拉伸应变来补偿。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters 》 |2010年第19期| P.193106.1-193106.3| 共3页
  • 作者单位

    IBM Research - Zurich, Saeumerstr. 4, 8803 Rueschlikon, Switzerland;

    IBM Research - Zurich, Saeumerstr. 4, 8803 Rueschlikon, Switzerland;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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