机译:通过扫描电容显微镜和光谱法观察InGaN / GaN量子阱中地下单层厚度的波动
Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, San Diego, La Jolla, California 92093-0407;
机译:通过扫描电容显微镜对InGaN / GaN量子阱中的厚度和成分涨落进行成像
机译:通过扫描电容显微镜观察InGaN / GaN量子阱异质结构中In浓度的变化
机译:包含InGaN / GaN多量子阱系统的单个纳米物体上的微光致发光光谱,扫描透射电子显微镜和原子探针层析成像的相关性
机译:利用扫描近场光学显微镜和光谱学研究InGaN / GaN多量子阱电致发光的高空间分辨率
机译:烷烃硫醇自组装单分子层,反应性自组装单分子层,扁平金纳米颗粒/铟锡氧化物基质的生长介质和温度依赖性结构相的扫描隧道显微镜研究,以及互补金属氧化物中局部机械应力表征的扫描表面光电压显微镜研究半导体器件。
机译:使用近场扫描光学显微镜和相关分析研究带有V坑的InGaN / GaN量子阱中的载流子定位和转移
机译:通过扫描近场光学显微镜探测的GaN微面上的(11(2)over-bar2)InGaN / GaN量子阱的有效绿色发射
机译:n-烷硫醇盐单层在银纳米结构上的自组装:扫描隧道显微镜测定单层膜的表观厚度