机译:HfCl_4和H_2O在Ge / Si(100)-(2X1)上的吸附和解离的密度泛函理论研究:SiGe表面HfO_2原子层沉积的初始阶段
Department of Microelectronics, State Key Laboratory of ASIC and System, Fudan University, Shanghai 200433, People's Republic of China;
机译:HfCI_4和H2O在Ge / Si(100)-(2x1)上的吸附和解离的量子化学研究:SiGe表面HfO_2原子层沉积的初始阶段
机译:Ge / Si(100)-(2x1)表面ZrO_2原子层沉积初期的密度泛函理论研究
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机译:从硅(100)-2x1表面使用低能电子衍射的密度泛函理论计算中比较簇和平板模型的几何形状。
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