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机译:在4H-SiC衬底上热氧化的Ti / SiO_2栅介质堆叠的特性
机译:快速热退火对n型4H-SiC上Al_2O_3 / SiN反应阻挡层/热氮化SiO_2堆叠栅电介质的影响
机译:4H-SiC衬底上TiO_2 / SiO_2高k栅介质堆叠中的漏电流和电荷俘获行为
机译:带有AlON / SiO_2叠栅电介质的4H-SiC MOS电容器中的SiO_2 / SiC界面电荷的平带电压偏移
机译:高带隙4H-SiC衬底的高k / SiO_2叠层介质中的二态电流传导
机译:UV臭氧氧化了硅和锗衬底上的高κ栅极电介质。
机译:热氧化硅衬底上非常薄的共溅射Ti-Al和多层Ti / Al膜的相形成和高温稳定性
机译:使用射频磁控溅射在$ Pt / Ti / SiO_2 / Si $衬底上沉积的$ CaCu_3Ti_4O_ {12} $薄膜的沉积和介电特性