机译:受激准分子激光辐照抑制有机晶体管中的关态漏电流
机译:截止应力老化的p型多晶硅薄膜晶体管的栅诱导漏极泄漏电流特性
机译:具有浅沟槽隔离的N沟道金属氧化物半导体晶体管中辐射引起的截止态泄漏电流的模型
机译:TiSi / sub 2 /预非晶化注入在0.20 / spl mu / m CMOS工艺中引起的晶体管截止状态漏电流
机译:截止偏置温度应力下带缺陷隧道效应引起的高密度DRAM单元晶体管结泄漏电流的可靠性降低
机译:通过准分子激光辐照用于薄膜晶体管的晶体硅薄膜。
机译:A-Ingazno薄膜晶体管中光漏电流和负偏压照明应力的退火诱导稳定性的定量分析
机译:采用高应力siNx表面钝化层的alGaN / GaN高电子迁移率晶体管中的低断态漏电流