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Control of InN quantum dot density using rare gases in metal organic vapor phase epitaxy

机译:在金属有机气相外延中使用稀有气体控制InN量子点密度

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摘要

Indium nitride (InN) quantum dots have been grown on gallium nitride (GaN) templates with heights of 10 and 20 nm. The authors demonstrate that the surface densities of the dots are strongly affected by the nature of the carrier gas used during the growth, which can be used to modulate the surface density. The authors show here that replacing nitrogen by helium leads to a decrease of the dot surface density, while argon induces a strong increase of the density. Although validated for the InN/GaN system, this approach has a more general scope and can be extended to other material systems.
机译:氮化铟(InN)量子点已在氮化镓(GaN)模板上生长,高度为10和20 nm。作者证明,点的表面密度受生长过程中使用的载气性质的强烈影响,该载气可用于调节表面密度。作者在这里表明,用氦气替代氮气会导致点表面密度降低,而氩气会导致密度大大提高。尽管已针对InN / GaN系统进行了验证,但此方法具有更广泛的适用范围,可以扩展到其他材料系统。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2007年第15期|p.153102.1-153102.3|共3页
  • 作者单位

    Groupe d'Etude des Semiconducteurs, UMR 5650 CNRS, CC074, Place Eugene Bataillon, Universite Montpellier II, 34095 Montpellier, France;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

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