机译:器件配置对AI-Zn-Sn-O薄膜晶体管温度不稳定性的影响
Department of Materials Science and Engineering, Inha University, 253 Yonghyun-Dong, Nam-Gu, Incheon 402-751, Republic of Korea;
Transparent Electronics Team, ETRI, Daejeon 305-700, Republic of Korea;
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Transparent Electronics Team, ETRI, Daejeon 305-700, Republic of Korea;
Transparent Electronics Team, ETRI, Daejeon 305-700, Republic of Korea;
机译:不同器件结构的In-Ga-Zn-O薄膜晶体管电偏置温度不稳定性的比较研究
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机译:用于增强离子注入薄膜和非晶混合氧化物薄膜晶体管性能的新型低温工艺。
机译:光激励对insnzno厚度变化薄膜晶体管漏电流和负偏置不稳定性的影响
机译:支持和解释mOsavanvés:dispositif FD-sOI,transistor sans jonctions(JLT)ettransistoràcoucheminceàlele-conducteur d'oxyde amorphe。高级mOs器件的电气特性和建模:FD-sOI器件,无结晶体管和非晶氧化物半导体薄膜晶体管