机译:应变SiGe源/漏结中陷阱辅助隧穿电流的电场依赖性
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium EE Depart K. U. Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leu-ven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium EE Depart K. U. Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leu-ven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75. B-3001 Leuven, Belgium EE Depart K. U. Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leu-ven, Belgium;
机译:SiGe源极和漏极的45 nm p型金属氧化物半导体场效应晶体管中SiGe的窄宽和长度依赖性以及黄道孤立应力引起的缺陷
机译:锗含量对凹陷的SiGe源/漏结泄漏电流的依赖性
机译:闪光灯退火的起源是在带有应变SiGe源极/漏极的45 nm p-MOSFET中引起的p-n结泄漏
机译:建模电场和应变对嵌入式SiGe源/漏结泄漏的影响
机译:用于纳米级CMOS集成电路的硅,硅锗和硅碳源极/漏极结的低电阻率接触方法。
机译:用于22nm体PMOS晶体管的HK和MG集成了源极和漏极中的高应变SiGe
机译:具有高GE分数的高性能PMOSFET应变SiGE-异质结构 - 通过选择性B掺杂SiGE CVD形成的超肺源/漏极
机译:mOVpE生长的InalGap多应变量子阱结构中可见光波长下电反射率和光电流谱的电场依赖性。