机译:负偏压下负应力时间对非晶铟镓锌氧化锌薄膜晶体管界面和态体积密度的增加
Department of Information Display, Kyung Hee University, Advanced Display Research Center,1 Hoegi-dong, Dongdaemun-gu, Seoul 130-701, South Korea;
Department of Information Display, Kyung Hee University, Advanced Display Research Center,1 Hoegi-dong, Dongdaemun-gu, Seoul 130-701, South Korea;
Department of Information Display, Kyung Hee University, Advanced Display Research Center,1 Hoegi-dong, Dongdaemun-gu, Seoul 130-701, South Korea,Department of Engineering, Electrical Engineering Division, Cambridge University, Cambridge CB3 OF A,United Kingdom;
Department of Information Display, Kyung Hee University, Advanced Display Research Center,1 Hoegi-dong, Dongdaemun-gu, Seoul 130-701, South Korea;
机译:高迁移率p型WSe2薄膜晶体管的界面和体陷阱密度的确定
机译:使用电容 - 电压特性测定金属氧化物半导体薄膜晶体管中的块状和界面密度
机译:在高迁移率Znon薄膜晶体管中单独提取界面密度和散装陷阱状态的密度
机译:使用低频噪声分析,A-Si:H薄膜晶体管散装频道区域中的状态提取密度
机译:高k电介质氧化锌薄膜晶体管的电不稳定性和界面电荷的研究。
机译:金属氧化物薄膜晶体管的界面和态体积密度的半分析萃取方法
机译:用低频噪声分析法测量a-si:H薄膜晶体管体积区域的态密度
机译:金属和砷化镓之间相形成反应的热力学,动力学和界面形态:体积与薄膜研究。