机译:使用双光子吸收的厚4H-SiC外延层中载流子寿命变化
Naval Research Laboratory, 4555 Overlook Ave., Washington, DC 20375, USA;
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Sotera Defense Solutions, Herndon, Virginia 20171, USA;
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Naval Research Laboratory, 4555 Overlook Ave., Washington, DC 20375, USA;
University of Dallas, Irving, Texas 75062, USA;
机译:使用双光子吸收的厚4H-SiC外延层中载流子寿命的深度剖析
机译:使用微观时间分辨的自由载体吸收系统观察4H-SiC厚脱落剂中的载流子寿命分布
机译:三角形结构缺陷对4H-SiC超厚外延层载流子寿命的影响
机译:使用双光子吸收的厚4H-SiC脱落器中载体寿命的深度分析
机译:基于4h-sic n型外延层和cdznte的紧凑型高分辨率辐射探测器的制造与表征。
机译:使用表面下双光子显微镜探测光伏材料中的载流子寿命
机译:n-4H-siC外延层的测量载流子寿命的变化