机译:千兆赫扫描声显微镜分析Cu-Sn微连接中的空隙
Department of Electrical Engineering and Automation, Aalto University, P.O. Box 13500, FIN-00076 Aalto, Finland;
Department of Electrical Engineering and Automation, Aalto University, P.O. Box 13500, FIN-00076 Aalto, Finland;
Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS, Halle (Saale), Germany;
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Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS, Halle (Saale), Germany;
机译:扫描电子显微镜和俄歇电子能谱法分析单准晶体Al-Pd-Mn中的十二面体空隙
机译:使用C扫描扫描声显微镜和SEM分析结构缺陷对RFSSW接头疲劳强度的影响
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机译:扫描声学显微镜(SAM)非破坏性技术评估方法对模具空隙缺陷
机译:扫描病理显微镜的皮肤病理学高分辨率成像和数字表征
机译:多层相分析:用超高频扫描声学显微镜量量化软组织和活细胞的弹性性质
机译:扫描声学千兆赫显微镜用于三维集成技术中的计量应用
机译:结构陶瓷中的定量空洞表征使用扫描激光声学显微镜